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电子仪表冷热冲击测试箱

电子仪表冷热冲击测试箱

简要描述:

电子仪表冷热冲击测试箱三箱设备区分为:高温区、低温区、测试区三部分,测试产品置于测试区,冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击, 测试产品为静态式。

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一、参考标准

制造标准GB/T10586-2006及GB/T10592-1989

检定标准GB/T5170.2-1996;GB/T5170.5-1996 

满足试验标准:

GB2423.1-2008(IEC68-2-1)试验A:低温试验方法

GB2423.2-2008(IEC68-2-2)试验B:高温试验方法

GB/T2423.22-2008 试验N:温度变化试验方法

GJ8150.3A-2009(MIL-STD-810D)高温试验方法

GJ8150.4A-2009(MIL-STD-810D)低温试验方法

GJB/150.5-2009温度冲击试验

二、运用简介

电子仪表冷热冲击测试箱应用风路切换方式将温度导入测试区,做冷热冲击测试。高温冲击或低温冲击时,大时间可达9999分钟,大循环周期可达9999次。系统可作自动循环冲击或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。冷却采二元冷冻系统,降温效果快速,冷却方式为风冷式或水冷式两种。可连接电脑,记录仪仅为选购件。采用彩色中英文LCD触控式图控操作介面,操作简易.

三、电子仪表冷热冲击测试箱技术参数

1、规格尺寸:(W×H×D mm)
JR-WD-50 内箱尺寸:350×350×400 外箱尺寸:1560×1750×1440
JR-WD-80 内箱尺寸:500×400×400 外箱尺寸:1700×1800×1440
JR-WD-100 内箱尺寸:600×400×400 外箱尺寸:1800×1800×1440
JR-WD-150 内箱尺寸:600×500×500 外箱尺寸:1800×1900×1540
JR-WD-252 内箱尺寸:700×600×600 外箱尺寸:1900×2000×1640
2、温度测试范围:A:-40℃~150℃;B:-55℃~150℃;B:-65℃~150℃;
3、预热槽:RT~+165℃或RT~+200℃
4、预冷槽:RT~-55℃、RT~-65℃、RT~-75℃
5、温度均匀度:±2℃
6、温度波动度:±0.5℃
7、恢复时间:5分钟以内
8、预热槽升温时间约:40分钟
9、预冷槽降温时间:60分钟(或75分钟、90分钟)
10、控制器:日本OYO9226S全触摸屏控制器,触摸屏输入,根据客户要求可任意设定不同高低温冲击温度点,满足做测试的不同需求.
11、保护装置:压缩机超压、过热、无熔丝开关、过电流保护、超温保护、风机过载保护等。
12、电源:380V±10﹪50Hz

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