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可编程高低温老化试验设备

可编程高低温老化试验设备

简要描述:

可编程高低温老化试验设备广泛用于航空、航天、信息、电子、仪器仪表等行业作电工产品、材料、零部件、设备等的高低温交变,以便对试品在给定环境条件下的行为性能作出评价。

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一、可编程高低温老化试验设备技术参数

型号:JR-GD-80/JR-GD-150/JR-GD-225/JR-GD-408/JR-GD-800/JR-GD-1000
内箱尺寸(W×H×D)cm:80L:40×50×40; 150L:50×60×50; 225L:50×75×60;408L:60×85×80;800L:100×100×80;1000L:100×100×100;备注更多非标尺寸可来电杰瑞非标定制。
外形尺寸约(W×H×D)cm:80L:93×131×81,150L:103×141×91, 225L:108×162×112,408L:117×172×132, 800L:160×187×132, 1000L:150×195×165;备注:非标设备的外形尺寸请以实际尺寸为准。
容积(L) :80L,150L,225L,408L,:800L,1000型可选择,如果不知道选择多大的合适请把自家测试物的尺寸告知杰瑞生产厂家业务员刘琳帮忙推荐zui合适的尺寸及型号及尺寸。
温度笵围:0℃、-20℃、-40℃、-70℃~150℃
湿度笵围 :20%~98%RH(可根据客户要求定做:低湿型可达到5%RH或更高)
升降温速率:RT<----->150℃ 约35分钟(非线性空载,约3.0℃/分钟)
RT<----->-20℃ 约45分钟(非线性空载,约1.0℃/分钟)
温度分布均度 :±2℃
温度稳定度:±0.5℃
湿度分布均度:±3%

二、可编程高低温老化试验设备满足标准

·GB/T10589-2008低温试验箱技术条件
·GB/T10586-2006湿热试验箱技术条件
·GB/T10592-2008高低温试验箱技术条件
·GB/T2423.1-2008低温试验Aa,Ab
·GB/TT2423.2-2008试验B:高温试验方法.
·GB/T2423.3-2006(IEC68-2-3)恒定湿热试验Ca
·MIL-STD810D方法502.2
·GB/T2423.4-2008(MIL-STD810)方法507.2程序3
·GJB150.9-1986设备环境试验方法-湿热试验
·GB2423.34-2012、MIL-STD883C方法1004.2温湿度组合循环试验

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