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半导体高低温湿热循环测试箱

半导体高低温湿热循环测试箱

简要描述:

半导体高低温湿热循环测试箱广泛适用于各类电子电器、塑胶塑料、半导体照明、LED、LCD、光电通讯、汽车零部件、电线电缆、金属五金、化工涂料、建材等行业品质检测及研发新项目之用。

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  深圳市杰瑞试验设备有限公司主要致力于恒温恒湿箱,高低温试验箱,冷热冲击试验机,紫外线老化试验箱,淋雨试验箱等的研发与生产,是兼研发、生产、销售于一体的专业试验设备有限公司,我们愿与您携手共创高质量的产品!

一、半导体高低温湿热循环测试箱控制方式与特色

平衡调温调湿控制系统(BTHC),以P.I.D.方式控制SSR,使系统之加热加湿量等于热湿损耗量,故能长期稳定的使用。

二、用途

  半导体高低温湿热循环测试箱可程式恒温恒湿试验箱目的是仿真产品在气候环境温湿组合条件下(高低温操作&储存、温度循环、高温高湿、低温低湿、结露试验...),检测产品本身的适应能力与特性是否改变。需符合国际性规范之要求(IECJISGBMIL…)以达到国际间量测程序*性(含测试步骤、条件、方法)

三、技术参数

01.型号:JR-WS-80,JR-WS-100,JR-WS-120,JR-WS-150,R-WS-408,JR-WS-800,JR-WS-1000
02.内部尺寸80L(40X50X40).100L(40X50X50).120L(40X50X60). 150L(50X60X50)225L(50X75X60).408L(60X85X80). 800L(100X100X80).1000L(100X100X100)cm
03.内箱材质:镜面或雾面不锈钢板SUS #304 1.0mm厚
04.外箱材质:不锈钢板SUS #304 1.0mm厚或冷轧钢烤漆处理
05.保温材质:硬质Polyurethane发泡及玻璃棉
06.温度范围:

B表示-20℃ ~+150℃
C表示-40℃ ~+150℃
D表示-70℃ ~+150℃
07.温度波动度:±0.5℃
08.温度偏差:≤±2℃
09.温度zui低极限:

10.升温时间:平均3℃/min非线性空载时

11.降温时间:平均1℃/min非线性空载时
12.湿度范围:20%~98%R.H. 可根据要求订做至10-98﹪R.H
13.湿度波动度:±2.0%R.H.
14.湿度偏差:≤±3%
15.压缩机:法国泰康原装进口全密式压缩机
16.冷媒:环保冷媒R404A

四、满足标准

依国标GB/T10586-2006及GB/T10592-1989设计制造。

GB/T2423.1-2001试验A:低温

GB/T2423.1-2001试验B:高温(部分)

GB/T2423.3-2006试验Cab:恒定湿热 

GB/T2423.4-1993试验Db:交变湿热 

GB/T2423.34-2005试验Z/AD:温湿组合或其它在设备性能范围内的温湿度试验

  杰瑞厂家无偿提供安装调试及技术培训等服务。对设备整机免费保修壹年,终身维护。保修期内技术人员免费进行季度保养,以提升设备之使用寿命及对用户进行服务跟进。 

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